X射线光电子能谱仪 (X-ray Photoelectron Spectroscopy 简称XPS) ，又被称为化学分析电子能谱仪 (ESCA) ，是一种常规的表面成分分析技术，除了可以表征材料的成分组成，还可以表征各成分的化学状态，并可定量表征每种成分的相对含量；因而XPS广泛地应用于材料研究的各个领域，对于各种材料开发，材料剖析与失效机理的分析和研究具有不可替代的作用。

1. XPS技术原理简介

2. XPS技术特点以及与其它表面分析技术的能力对比（EDS/ TOF-SIMS/ AES 等）

3. XPS在材料表征中的应用案例分享

• 金属合金材料

• 半导体材料和产品（无机和有机半导体）

• 氧化物包括陶瓷、能源电池材料等

• 高聚物成分分析和膜层剖析

4. XPS图谱解析方法