SEM-EDS课程

限时优惠

扫一扫 加助教企微

热线:18101240246

¥68000
 
立即报名
  • 学员 梁** 198****3931 已报名此课程
  • 学员 冀** 189****6380 已报名此课程

自助订购后客服即刻联系您
开班时间请咨询班主任,早预约更优惠
课程介绍
课程目录

SEM/EDS采用电子源入射样品到表面,激发出二次电子(用于形貌观察)、背散射电子(不同的衬度像反映出不同的原子序数)以及特征X射线(用于成分分析)。

SEM对样品表面5nm~10nm的形貌十分敏感,对表面约10nm到一点几um深度的衬度信息也非常敏感,可进行微区的成分定性分析。

SEM可用于薄膜(极易受电子束损伤)的低压观察、纳米材料的高倍低压观察、晶粒结构分析、成分像分析、微纳米尺寸测量、断口分析、生物试样及液体试样的观察等。

1. SEM的结构和工作原理、 电子信号成像原理

二次电子、背散射电子的产生、分辨力及成像原理

2. SEM的主要应用

低压、纳米材料观察、成分像观察、微纳米尺寸测量、断口分析、生物、液体试样观察等

3. X射线的产生、探测限、假峰

X射线的产生、激发区域,X射线的探测限与假峰。

4. EDS的分析方法

点、线、面分析,颗粒物的自动分析。

5. 实用案例

变色、腐蚀、起泡、元素深度分布分析、界面缺陷分析等。

贝壳科研项目

生命科学
材料科学
工程科学
人工智能
电子科学/半导体
SCI服务

论文润色
课题设计
实验技术支持
关于贝壳

公司概况
Q&A合集
学员案例
学生荣誉
海外高校合作

北科学术视界

北科贝壳学术

北科学术探索

北科纳米学术提升